Concept information
AVDELNING XVIII - OPTISKA INSTRUMENT OCH APPARATER, FOTO- OCH KINOAPPARATER, INSTRUMENT OCH APPARATER FÖR MÄTNING, KONTROLL ELLER PRECISION, MEDICINSKA OCH KIRURGISKA INSTRUMENT OCH APPARATER; UR; MUSIKINSTRUMENT; DELAR OCH TILLBEHÖR TILL SÅDANA ARTIKLAR
KAPITEL 90 - OPTISKA INSTRUMENT OCH APPARATER, FOTO- OCH KINOAPPARATER, INSTRUMENT OCH APPARATER FÖR MÄTNING, KONTROLL ELLER PRECISION, MEDICINSKA OCH KIRURGISKA INSTRUMENT OCH APPARATER; DELAR OCH TILLBEHÖR TILL SÅDANA ARTIKLAR
9030 Oscilloskop, spektrumanalysapparater samt andra instrument och apparater för mätning eller kontroll av elektriska storheter, med undantag av mätare enligt nr 9028; instrument och apparater för mätning eller påvisande av alfa-, beta-, gamma- eller röntgenstrålning, kosmisk strålning eller annan joniserande strålning
Andra instrument och apparater
Preferred term
9030 82 00För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
Broader concept
Entry terms
- För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
Scope note
- Instrument och apparater för mätning och kontroll av halvledarplattor "wafers" eller halvledarkomponenter inkl. integrerade kretsar
Belongs to array
Identifier
- 903082000080
Notation
- 9030 82 00
In other languages
-
Bulgarian
-
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
-
Croatian
-
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
-
Czech
-
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
Danish
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
-
Dutch
-
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
-
English
-
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
-
Estonian
-
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
-
Finnish
-
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
-
French
-
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
-
German
-
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
-
Greek
-
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
-
Hungarian
-
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
-
Irish
-
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
-
Italian
-
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
-
Latvian
-
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
-
Lithuanian
-
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
-
Maltese
-
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
-
Polish
-
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
-
Portuguese
-
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
-
Romanian
-
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
-
Slovak
-
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
-
Slovenian
-
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
-
Spanish
-
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}