Skip to main content

Search from vocabulary

Content language

Concept information

Preferred term

voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)  

Broader concept

Entry terms

  • voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)

Identifier

  • 853890110010

In other languages

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/853890110010

Download this concept: