Skip to main content

Search from vocabulary

Content language

Concept information

Preferred term

За изпитвателните устройства (тестери) за полупроводникови пластини (wafers)  

Broader concept

Entry terms

  • За изпитвателните устройства (тестери) за полупроводникови пластини (wafers)

Identifier

  • 853890110010

In other languages

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/853890110010

Download this concept: