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Preferred term

9031 41 00Para controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controlo de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)  

Entry terms

  • Para controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controlo de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

Belongs to array

Identifier

  • 903141000080

Notation

  • 9031 41 00

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URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903141000080

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