Angaben zum Begriff
AFDELING XVIII - OPTISCHE INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN; INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN, VOOR DE FOTOGRAFIE EN DE CINEMATOGRAFIE; MEET-, VERIFICATIE-, CONTROLE- EN PRECISIE-INSTRUMENTEN, -APPARATEN EN -TOESTELLEN; MEDISCHE EN CHIRURGISCHE INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN; UURWERKEN; MUZIEKINSTRUMENTEN; DELEN EN TOEBEHOREN VAN DEZE INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN
HOOFDSTUK 90 - OPTISCHE INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN; INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN, VOOR DE FOTOGRAFIE EN DE CINEMATOGRAFIE; MEET-, VERIFICATIE-, CONTROLE- EN PRECISIE-INSTRUMENTEN, -APPARATEN EN -TOESTELLEN; MEDISCHE EN CHIRURGISCHE INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN; DELEN EN TOEBEHOREN VAN DEZE INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN
9030 Oscilloscopen, spectrumanalysetoestellen en andere instrumenten, apparaten en toestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden, andere dan meters van post 9028; meet- en detectietoestellen en -instrumenten voor alfa-, bèta- en gammastralen, röntgenstralen, kosmische stralen en andere ioniserende stralen
andere instrumenten, apparaten en toestellen
Bevorzugte Bezeichnung
9030 82 00voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
Oberbegriff
Synonyme
- voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
Anwendungshinweise
- Instrumenten, apparaten en toestellen voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
Gehört zu Array
Bezeichner
- 903082000080
Notation
- 9030 82 00
In anderen Sprachen
-
Bulgarisch
-
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
Dänisch
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
-
Deutsch
-
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
-
Englisch
-
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
-
Estnisch
-
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
-
Finnisch
-
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
-
Französisch
-
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
-
Griechisch
-
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
-
Irisch
-
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
-
Italienisch
-
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
-
Kroatisch
-
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
-
Lettisch
-
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
-
Litauisch
-
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
-
Maltesisch
-
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
-
Polnisch
-
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
-
Portugiesisch
-
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
-
Rumänisch
-
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
-
Schwedisch
-
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
-
Slowakisch
-
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
-
Slowenisch
-
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
-
Spanisch
-
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
-
Tschechisch
-
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
-
Ungarisch
-
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}