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Angaben zum Begriff

Bevorzugte Bezeichnung

9030 82 00For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)  

Synonyme

  • For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

Anwendungshinweise

  • Instruments and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices, incl. integrated circuits

Bezeichner

  • 903082000080

Notation

  • 9030 82 00

In anderen Sprachen

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

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