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Angaben zum Begriff

Bevorzugte Bezeichnung

9030 82 00zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)  

Synonyme

  • zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

Anwendungshinweise

  • Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben "wafers" oder Halbleiterbauelementen, auch integrierter Schaltungen

Bezeichner

  • 903082000080

Notation

  • 9030 82 00

In anderen Sprachen

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

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