Skip to main

Concept information

Foretrukken term

9030 82 00För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)  

alternativ term

  • För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

Omfangsnote

  • Instrument och apparater för mätning och kontroll av halvledarplattor "wafers" eller halvledarkomponenter inkl. integrerade kretsar

Tilhører liste

Identifikator

  • 903082000080

På andre sprog

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Download i SKOS-format: