Skosmos: Products: naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)

ODDELEK XVIII - OPTIČNI, FOTOGRAFSKI, KINEMATOGRAFSKI, MERILNI, KONTROLNI, PRECIZNI, MEDICINSKI ALI KIRURŠKI INSTRUMENTI IN APARATI; URE; GLASBILA; NJIHOVI DELI IN PRIBOR > POGLAVJE 90 - OPTIČNI, FOTOGRAFSKI, KINEMATOGRAFSKI, MERILNI, KONTROLNI, PRECIZNI, MEDICINSKI ALI KIRURŠKI INSTRUMENTI IN APARATI; NJIHOVI DELI IN PRIBOR > 9030 Osciloskopi, spektralni analizatorji in drugi instrumenti in aparati za merjenje ali kontrolo električnih veličin, razen merilnikov iz tarifne številke 9028; instrumenti in aparati za merjenje ali odkrivanje alfa, beta, gama, rentgenskih, kozmičnih ali drugih ionizirajočih sevanj > Drugi instrumenti in aparati > naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)

Foretrukken term

9030 82 00naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)

Drugi instrumenti in aparati

naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)

CN - Level 5 - CN subheadings (en)

Identifikator

903082000080

За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)

bulgarsk
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)

dansk
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

engelsk
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks

estisk
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten

finsk
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)

fransk
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)

græsk
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)

hollandsk
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil

irsk
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

italiensk
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)

kroatisk
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei

lettisk
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti

litauisk
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)

maltesisk
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)

polsk
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

portugisisk
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)

rumænsk
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)

slovakisk
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)

spansk
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)

svensk
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)

tjekkisk
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)

tysk
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére

ungarsk
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
[show all 46 values]

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Download i SKOS-format:

RDF/XML TURTLE JSON-LD

Skosmos

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

Foretrukken term

overbegreb

alternativ term

Tilhører liste

Identifikator

På andre sprog

URI

Download i SKOS-format:

{{label}}

Skosmos

Sentier.dev Common Products Taxonomy adapted from Combined Nomenclature 2024

Søg i begrebssystem

Sidebar listing: list and traverse vocabulary contents by a criterion

List vocabulary concepts alphabetically

List vocabulary concepts hierarchically

undefined

Concept information

Foretrukken term

overbegreb

alternativ term

Tilhører liste

Identifikator

På andre sprog

URI

Download i SKOS-format:

{{label}}