Skip to main

Concept information

Foretrukken term

9030 82 00Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)  

alternativ term

  • Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

Tilhører liste

Identifikator

  • 903082000080

På andre sprog

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

Download i SKOS-format: