Skip to main

Concept information

Foretrukken term

voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)  

overbegreb

alternativ term

  • voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)

Identifikator

  • 853890110010

På andre sprog

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/853890110010

Download i SKOS-format: