Concept information
ODSJEK XVIII. - OPTIČKI, FOTOGRAFSKI, KINEMATOGRAFSKI, MJERNI, KONTROLNI, ISPITNI, MEDICINSKI ILI KIRURŠKI INSTRUMENTI I APARATI; SATOVI; GLAZBALA; NJIHOVI DIJELOVI I PRIBOR
POGLAVLJE 90 - OPTIČKI, FOTOGRAFSKI, KINEMATOGRAFSKI, MJERNI, KONTROLNI, ISPITNI, MEDICINSKI ILI KIRURŠKI INSTRUMENTI I APARATI; NJIHOVI DIJELOVI I PRIBOR
9030 Osciloskopi, spektralni analizatori i ostali instrumenti i aparati za mjerenje ili kontrolu električnih veličina, osim mjerila iz tarifnog broja 9028; instrumenti i aparati za mjerenje ili otkrivanje alfa-, beta-, gama-, rendgenskih, svemirskih ili drugih ionizirajućih zračenja
ostali instrumenti i aparati
Foretrukken term
9030 82 00za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
overbegreb
alternativ term
- za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
Tilhører liste
Identifikator
- 903082000080
På andre sprog
-
bulgarsk
-
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
dansk
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
-
engelsk
-
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
-
estisk
-
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
-
finsk
-
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
-
fransk
-
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
-
græsk
-
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
-
hollandsk
-
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
-
irsk
-
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
-
italiensk
-
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
-
lettisk
-
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
-
litauisk
-
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
-
maltesisk
-
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
-
polsk
-
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
-
portugisisk
-
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
-
rumænsk
-
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
-
slovakisk
-
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
-
slovensk
-
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
-
spansk
-
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
-
svensk
-
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
-
tjekkisk
-
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
-
tysk
-
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
-
ungarsk
-
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}