Concept information
AFDELING XVIII - OPTISCHE INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN; INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN, VOOR DE FOTOGRAFIE EN DE CINEMATOGRAFIE; MEET-, VERIFICATIE-, CONTROLE- EN PRECISIE-INSTRUMENTEN, -APPARATEN EN -TOESTELLEN; MEDISCHE EN CHIRURGISCHE INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN; UURWERKEN; MUZIEKINSTRUMENTEN; DELEN EN TOEBEHOREN VAN DEZE INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN
HOOFDSTUK 90 - OPTISCHE INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN; INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN, VOOR DE FOTOGRAFIE EN DE CINEMATOGRAFIE; MEET-, VERIFICATIE-, CONTROLE- EN PRECISIE-INSTRUMENTEN, -APPARATEN EN -TOESTELLEN; MEDISCHE EN CHIRURGISCHE INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN; DELEN EN TOEBEHOREN VAN DEZE INSTRUMENTEN, APPARATEN EN TOESTELLEN
9030 Oscilloscopen, spectrumanalysetoestellen en andere instrumenten, apparaten en toestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden, andere dan meters van post 9028; meet- en detectietoestellen en -instrumenten voor alfa-, bèta- en gammastralen, röntgenstralen, kosmische stralen en andere ioniserende stralen
andere instrumenten, apparaten en toestellen
المصطلح المفضل
9030 82 00voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
مفهوم أوسع
مصطلحات المداخل
- voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
تبصرة توضيحية
- Instrumenten, apparaten en toestellen voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
ينتمي إلى المصفوفة
المُعَرِّف
- 903082000080
بلغات أخرى
-
الألمانية
-
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
-
الأيرلندية
-
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
-
الإسبانية
-
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
-
الإستونية
-
pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
-
الإنجليزية
-
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
-
الإيطالية
-
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
-
البرتغالية
-
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
-
البلغارية
-
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
-
البولندية
-
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
-
التشيكية
-
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
الدانمركية
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
-
الرومانية
-
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
-
السلوفاكية
-
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
-
السلوفانية
-
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
-
السويدية
-
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
-
الفرنسية
-
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
-
الفنلندية
-
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
-
الكرواتية
-
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
-
اللاتفية
-
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
-
الليتوانية
-
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
-
المالطية
-
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
-
الهنغارية
-
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
-
اليونانية
-
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}