Concept information
AFDELING XVI - MACHINES, TOESTELLEN EN ELEKTROTECHNISCH MATERIEEL, ALSMEDE DELEN DAARVAN; TOESTELLEN VOOR HET OPNEMEN OF HET WEERGEVEN VAN GELUID, VOOR HET OPNEMEN OF HET WEERGEVEN VAN BEELDEN EN GELUID VOOR TELEVISIE, ALSMEDE DELEN EN TOEBEHOREN VAN DEZE TOESTELLEN
HOOFDSTUK 85 - ELEKTRISCHE MACHINES, APPARATEN, UITRUSTINGSSTUKKEN, ALSMEDE DELEN DAARVAN; TOESTELLEN VOOR HET OPNEMEN OF HET WEERGEVEN VAN GELUID, TOESTELLEN VOOR HET OPNEMEN OF HET WEERGEVEN VAN BEELDEN EN GELUID VOOR TELEVISIE, ALSMEDE DELEN EN TOEBEHOREN VAN DEZE TOESTELLEN
8538 Delen waarvan kan worden onderkend dat zij uitsluitend of hoofdzakelijk bestemd zijn voor de toestellen bedoeld bij post 8535, 8536 of 8537
andere
المصطلح المفضل
voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)
مفهوم أوسع
مصطلحات المداخل
- voor aansluittoestellen voor het meten of het verifiëren van elektrische grootheden in schijven (wafers) van halfgeleidermateriaal (waferprober)
المُعَرِّف
- 853890110010
بلغات أخرى
-
الألمانية
-
für Wafer-Prober
-
الأيرلندية
-
do bhrathadóirí sliseoige
-
الإسبانية
-
De sondas de discos (wafers) de material semiconductor
-
الإستونية
-
plaadisondidele
-
الإنجليزية
-
For wafer probers
-
الإيطالية
-
per sonde di dischi (wafers)
-
البرتغالية
-
Para estações de teste de wafers semicondutores
-
البلغارية
-
За изпитвателните устройства (тестери) за полупроводникови пластини (wafers)
-
البولندية
-
Do urządzeń do testowania płytek półprzewodników
-
التشيكية
-
Pro sondy polovodičových destiček
-
الدانمركية
-
Til waferprøvere
-
الرومانية
-
Pentru aparatele de verificare a discurilor de semiconductoare (wafers)
-
السلوفاكية
-
Na waferové sondy
-
السلوفانية
-
za rezinske sonde
-
السويدية
-
Till kiselskivetestare
-
الفرنسية
-
pour testeurs de disques (wafers) à semi-conducteur
-
الفنلندية
-
puolijohdekiekon mittauspäissä käytettävät
-
الكرواتية
-
za sonde za ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera)
-
اللاتفية
-
pusvadītāju plašu taustiem
-
الليتوانية
-
Zondinių plokštelių bandiklių
-
المالطية
-
Għal wafer probers
-
الهنغارية
-
alá tartozó félvezetőlemez-vizsgálóhoz
-
اليونانية
-
Για δοκιμαστικά δίσκων (wafers) ημιαγωγών
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/853890110010
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}