Skip to main

Concept information

المصطلح المفضل

9030 82 00per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)  

مفهوم أوسع

مصطلحات المداخل

  • per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)

ينتمي إلى المصفوفة

المُعَرِّف

  • 903082000080

بلغات أخرى

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

تحميل هذا المفهوم: