Concept information
XVIII JAOTIS - OPTIKA-, FOTO-, KINO-, MÕÕTE-, KONTROLL-, TÄPPIS-, MEDITSIINI- JA KIRURGIAINSTRUMENDID NING -APARATUUR; KELLAD; MUUSIKARIISTAD; NENDE OSAD JA TARVIKUD
GRUPP 90 - OPTIKA-, FOTO-, KINO-, MÕÕTE-, KONTROLL-, TÄPPIS-, MEDITSIINI- JA KIRURGIAINSTRUMENDID NING -APARATUUR; NENDE OSAD JA TARVIKUD
9030 Ostsilloskoobid, spektraalanalüsaatorid jm instrumendid ja seadmed elektriliste suuruste mõõtmiseks või kontrollimiseks (v.a rubriigi 9028 arvestid); instrumendid ja seadmed alfa-, beeta-, gamma-, röntgeni-, kosmilise vm ioniseeriva kiirguse mõõtmiseks või tuvastamiseks
muud instrumendid ja seadmed
المصطلح المفضل
9030 82 00pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
مفهوم أوسع
مصطلحات المداخل
- pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
ينتمي إلى المصفوفة
المُعَرِّف
- 903082000080
بلغات أخرى
-
الألمانية
-
zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
-
الأيرلندية
-
chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
-
الإسبانية
-
Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
-
الإنجليزية
-
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
-
الإيطالية
-
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
-
البرتغالية
-
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
-
البلغارية
-
За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
-
البولندية
-
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
-
التشيكية
-
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
الدانمركية
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
-
الرومانية
-
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
-
السلوفاكية
-
Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
-
السلوفانية
-
naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
-
السويدية
-
För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
-
الفرنسية
-
pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
-
الفنلندية
-
puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
-
الكرواتية
-
za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
-
اللاتفية
-
pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
-
الليتوانية
-
Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
-
المالطية
-
Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
-
الهنغارية
-
Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
-
الهولندية
-
voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
-
اليونانية
-
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}