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SECCIÓN XVIII - INSTRUMENTOS Y APARATOS DE ÓPTICA, FOTOGRAFÍA O CINEMATOGRAFÍA, DE MEDIDA, CONTROL O PRECISIÓN; INSTRUMENTOS Y APARATOS MEDICOQUIRÚRGICOS; APARATOS DE RELOJERÍA; INSTRUMENTOS MUSICALES; PARTES Y ACCESORIOS DE ESTOS INSTRUMENTOS O APARATOS
CAPÍTULO 90 - INSTRUMENTOS Y APARATOS DE ÓPTICA, FOTOGRAFÍA O CINEMATOGRAFÍA, DE MEDIDA, CONTROL O PRECISIÓN; INSTRUMENTOS Y APARATOS MEDICOQUIRÚRGICOS; PARTES Y ACCESORIOS DE ESTOS INSTRUMENTOS O APARATOS
9030 Osciloscopios, analizadores de espectro y demás instrumentos y aparatos para medida o control de magnitudes eléctricas; instrumentos y aparatos para medida o detección de radiaciones alfa, beta, gamma, X, cósmicas o demás radiaciones ionizantes
Los demás instrumentos y aparatos
المصطلح المفضل
9030 82 00Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
مفهوم أوسع
مصطلحات المداخل
- Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados)
تبصرة توضيحية
- Instrumentos y aparatos para medida o control de obleas "wafers" o dispositivos, semiconductores
ينتمي إلى المصفوفة
المُعَرِّف
- 903082000080
بلغات أخرى
-
الألمانية
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zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
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الأيرلندية
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chun sliseoga nó gairis leathsheoltóra a thomhas nó a sheiceáil
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الإستونية
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pooljuhtplaatide või -seadiste (k.a integraallülituste) mõõtmiseks või kontrollimiseks
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الإنجليزية
-
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
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الإيطالية
-
per la misura o il controllo di dischi (wafer) o di dispositivi a semiconduttore (compresi i circuiti integrati)
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البرتغالية
-
Para medida ou controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados)
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البلغارية
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За измерване или контрол на полупроводникови пластини (wafers) или на полупроводникови прибори (включително интегрални схеми)
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البولندية
-
Do pomiaru lub kontroli płytek lub urządzeń półprzewodnikowych (włączając układy scalone)
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التشيكية
-
Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení (včetně integrovaných obvodů)
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Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
الدانمركية
-
Til måling eller kontrollering af halvlederskiver eller -komponenter (herunder integrerede kredsløb)
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الرومانية
-
Pentru măsurarea sau controlul discurilor sau al dispozitivelor cu semiconductor (inclusiv circuitele integrate)
-
السلوفاكية
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Na meranie alebo kontrolu polovodičových doštičiek alebo zariadení (vrátane integrovaných obvodov)
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السلوفانية
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naprave za merjenje ali testiranje polprevodniških rezin ali naprav (vključno integrirana vezja)
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السويدية
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För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)
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الفرنسية
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pour la mesure ou le contrôle des disques ou des dispositifs à semi-conducteur (y compris les circuits intégrés)
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الفنلندية
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puolijohdekiekkojen tai -komponenttien (myös integroidut piirit) mittaamista tai tarkkailua varten
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الكرواتية
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za mjerenje ili ispitivanje poluvodičkih pločica (wafera) ili elemenata (uključujući integrirane krugove)
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اللاتفية
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pusvadītāju matriču vai ierīču (tostarp integrālo shēmu) mērīšanai vai pārbaudei
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الليتوانية
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Puslaidininkių plokštelių ar įtaisų (įskaitant integrinius grandynus) charakteristikoms matuoti arba tikrinti
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المالطية
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Għall-kejl jew għall-iċċekkjar tal-wafers jew tal-apparati semikondutturi (inkluż ċirkwiti integrati)
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الهنغارية
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Félvezető lemez vagy eszköz (beleértve az integrált áramköröket is) mérésére vagy ellenőrzésére
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الهولندية
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voor het meten of het verifiëren van halfgeleiderschijven of van halfgeleiderelementen (geïntegreerde schakelingen daaronder begrepen)
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اليونانية
-
Για τη μέτρηση ή τον έλεγχο ημιαγώγιμων πλακιδίων ή διατάξεων (περιλαμβανομένων των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων)
URI
http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080
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