Skip to main

Concept information

المصطلح المفضل

9030 82 00For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)  

مصطلحات المداخل

  • For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)

تبصرة توضيحية

  • Instruments and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices, incl. integrated circuits

ينتمي إلى المصفوفة

المُعَرِّف

  • 903082000080

بلغات أخرى

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903082000080

تحميل هذا المفهوم: