Skip to main

Concept information

المصطلح المفضل

9031 41 00Para controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controlo de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)  

مصطلحات المداخل

  • Para controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controlo de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)

ينتمي إلى المصفوفة

المُعَرِّف

  • 903141000080

بلغات أخرى

URI

http://data.europa.eu/xsp/cn2024/903141000080

تحميل هذا المفهوم: